Products
OPTIVE의 첨단 검사 시스템으로 제품 품질을 보장합니다
OPTIVE Products. field
반도체 & FPD 신규 공정에 대한 고객 맞춤형 검사 솔루션을 제공합니다.
01
Wafer Inspection System
반도체 웨이퍼 검사 시스템
- 나노미터 수준의 미세 결함 검출
- 고속 자동화 검사 프로세스
- AI 기반 결함 분류 및 분석
02
Display Inspection
디스플레이 검사 솔루션
- OLED/LCD 패널 전수 검사
- Mura, 휘점, 이물 등 결함 검출
- 실시간 품질 모니터링 시스템
03
Smart Monitoring
AI 기반 스마트 모니터링
- 딥러닝 기반 패턴 인식
- 예측 정비 및 이상 감지
- 통합 데이터 분석 플랫폼
04
3D Shape Inspection
3D 형상 검사 시스템
- 비접촉식 3D 형상 측정
- 마이크로미터 수준 정밀도
- 다양한 소재 및 형태 대응
2/3D 복합 검사 SYSTEM
자동화된 결함 검토 시스템으로 생산성과 정확도를 동시에 향상시킵니다. 고해상도 이미징 기술과 AI 기반 분석을 통해 미세한 결함까지 정확하게 검출합니다.
고속 검사
기존 기술을 뛰어넘는 대면적 3D 광학계를 적용, 고객사가 요구에 맞는 빠른 생산 속도를 유지합니다
정밀 분석
나노미터 수준의 결함까지 검출 가능한 고정밀 시스템
AI 기반 분류
머신러닝 알고리즘으로 결함 유형을 자동 분류 및 분석
Inspection System
첨단 검사 시스템으로 제품 품질을 보장하고 불량률을 최소화합니다. 다양한 검사 모드와 실시간 모니터링 기능을 제공합니다.
다중 모드 검사
다양한 2D 및 3D 검사/계측을 하나의 광학계로 구현
실시간 모니터링
검사 결과를 실시간으로 확인하고 즉각 대응 가능
데이터 분석
검사 데이터를 수집하고 분석하여 품질 개선에 활용
